Сб. Материалы 3-го Всесоюзного совещания “Дефекты структуры в полупроводниках - сборник | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Сб. Материалы 3-го Всесоюзного совещания “Дефекты структуры в полупроводникахсборник

Год издания: 1978
Место издания: Институт полупроводников Новосибирск, Академгородок
Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич

Статьи, опубликованные в сборнике

- 1978 Использование дифракционной фокусировки рентгеновских лучей для исследования дислокационных микронапряжений ,
- Суворов Э.В., Никитенко В.И., Мухин К.Ю.
- в сборнике Сб. Материалы 3-го Всесоюзного совещания “Дефекты структуры в полупроводниках, место издания Институт полупроводников Новосибирск, Академгородок, с. 276-276