|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Вейвлет-анализ в рентгеновской рефлектометрии для определения порядка расположения слоев в пленкахтезисы доклада
- Авторы: Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
- Сборник: От конвергенции наук к природоподобным технологиям
- Том: 1
- Тезисы
- Год издания: 2016
- Место издания: НТ-Принт СПб
- Первая страница: 151
- Последняя страница: 151
- Добавил в систему: Щедрин Борис Михайлович