Dielectric permittivity of organosilicate glass thin films on a sapphire substrate determined using time-domain THz and Fourier IR spectroscopyстатья
-
Авторы:
Komandin G.A.,
Nozdrin V.S.,
Chernomyrdin N.V.,
Seregin D.S.,
Vishnevskiy A.S.,
Kurlov V.N.,
Vorotilov K.A.,
Miakonkikh A.V.,
Lomov A.A.,
Rudenko K.V.,
Spektor I.E.
-
Журнал:
Journal of Physics D
-
Том:
55
-
Номер:
2
-
Год издания:
2022
-
DOI:
10.1088/1361-6463/ac2ad5
-
Добавил в систему:
Мяконьких Андрей Валерьевич