Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
TXRF characterization of inhomogeneous solids: Influence of surface morphology
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
,
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 сентября 2014 г.
Авторы:
Alov N.V.
,
Oskolok K.V.
,
Wittershagen A.
,
Kolbesen B.O.
Сборник:
PV 2003-03 <ISBN 1-56677-348-2>ALTECH 2003 Analytical and Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials, Devices, and Processes
Год издания:
2003
Место издания:
Published PVs from the ECS Meeting, Paris, France (Spring 2003)
Первая страница:
129
Последняя страница:
135
Добавил в систему:
Осколок Кирилл Владимирович