Образование

Соавторы: Falloon T.J., Каменецкий В.С., Larson S., Yaxley G.M., Achim P., Ackermann M., Ajello M., Albert D., Ammazzalorso S., BAUER E., Bailey M.R., Balam D., Baldini L., Ballet J., Baransky A.R., Barbiellini G., Bastieri D., Beger R.D., Behrendt A., Bellazzini R., Berns M.W., Bettermann K., Beuden T., Bissaldi E., Blandford R.D., Boege Y., Bonito R., Bottacini E., Bregeon J., Bruel P., Bryssinck E., Br¨uckner M., Buckley D.A., Buehler R., Buson S., Böhm F., Cameron R.A., Campi D., Caputo R., Caraveo P.A., Carson P., Carvajal V.F., Cavazzuti E., Cebral C., Chambers K., Chaponnier C., Chavez J.C., Christopher K., Cikota A., Ciprini S., Clavien P., Constantin D., Cortes E., Crawford A.J., Cucini R., Cuomo V., Curé B., Cutri R.M., Da P.G., Danyushevsky L.V., David W.I., Davies R.W., Dekelver P.J., Denneau L., Desai A., Desirelli A., Di Lalla N., Di Mauro M., Di Venere L., Diepvens A., Digel S.W., Dobre G., Dou J., Drummond J.M., Dujardin C., D’Ammando F., Eggins S.M., FA, Fairlamb J.R., Fan D., Fan T., Farinon S., Fasolini M., Favuzzi C., Fazekas J.B., Fernandez E., Ferri I., Fitzsimmons A., Ford C.E., Fornengo N., Franckowiak A., Fritzsche S., Fukazawa Y., Fuls D.C., Fusco P., GONZALEZ D., Gargano F., Gasparrini D., Gerwig H., Ghiano C., Gibbs A.R., Giglietto N., Giordano F., Giroletti M., Graca L.M., Grau T., Grauer A.D., Grenier I.A., Grillet J.P., Groeller H., Guillemot L., Guiriec S., H-E S., Haber M., Haumann M., Healy M.E., Heikenwalder M., Henning A., Herman J., Hervé A., Hiller A., Hills K., Hu M.L., Huang Y., Hüner N.P., Ikari Y., JC, Jager M., Jeon S., Jeong J., Jewitt D., Jóhannesson G., KUMAR P., Kadota K., Kasianchuk A., Kay S., Kechin Y., Kircher F., Koch B.P., Koch H.R., Konishi M., Koo H., Kowalski R., Kristian D., Kurihara K., Kuss M., Kwon Y., Kühne T., LI B., LUCAS R.M., Lars F.R., Latronico L., Lei L., Lejoly C., Leonard G.J., Levesy B., Li J., Lindner J., Liodakis I., Logan J.A., Longo F., Loparco F., Loveless R., Lowe T.C., Lu H., Lubos B., Lubrano P., Luedde T., Luther S.M., Lutkenhoner B., MACMILLAN, Magill J.D., Magliano C., Magnier E.A., Mainzer A.K., Maldera S., Malehmir M., Malyshev D.A., Masiero J.R., Massimo P., Mastaler R.A., Mazziotta M.N., Mašek M., Meech K.J., Mereu I., Merkens L., Michelson P.F., Minguez P., Mitthumsiri W., Mizuno T., Monteiro M., Monzani M.E., Morselli A., Mutreja K., Müllhaupt B., Navas G., Nedelcu A., Negro M., Nielsen R., Object Wide-field Infrared Survey E.N., Oliveira C., Onken C., Opados C., Orienti M., Orlando E., Palatiello M., Paneque D., Pasche W., Pearce A., Pesce-Rollins M., Pittichova J., Porter T.A., Principe G., Prosperi E., Prystavski T., Rainò S., Ramanjooloo Y., Rankin D.W., Razzano M., Razzaque S., Rees G., Rehrauer H., Reimer A., Reimer O., Reis M.S., Remouchamps C., Renaud A., Ritz D., Robinson J., SACLEUX M., Sabine S., Scarmato T., Schattenberg J.M., Schultz A.J., Schulze-Bergkamen H., Seaman R.L., Sgrò C., Shaw C., Shelly F.C., Shurpakov S., Siskind E.J., Siverd R.J., Smith I.H., Smith R.P., Sneps-Sneppe M., Sokoliuk O., Soulier J.F., Spandre G., Speicher T., Spinelli P., Sundaravinayagam D., Susana C., Sánchez S.F., Tajima H., Takahashi M., Takahashi T., Temprano J., Thaler J., Thirouin A., Tibaldo L., Tonry J., Torres L.M., Townsend R.H., Troja E., Vauquelin B., Venters T.M., Vianello G., Virgilio M.D., Vucur M., Wainscoat R., Wang S., Weiland H., Weinlich R., Wells G., Wells J.A., Weryk R., Wierzchos K.W., William S., Wolf M., Wong V.C., Woodward C.E., Wright E.L., Xu Z.Z., Yamaguchi Y., Yassene M., Yoshimi M., Yoshimoto K., Zaharijas G., Zahn R., Zhaori G., Zwirner S., de Boer T., de Palma F., de la Torre S., jan j., jin x.K., Арискин А.А., Ахуджа А., Балануца П.В., Борисенко С.В., Гао Х., Горбовской Е.С., Гресь О.А., Гусар Д.А., Деев С.М., Дуриш З., Зимнухов Д.С., Калинин А.Ю., Клюхин В.И., Корн Д.Н., Корнилов В.Г., Кост А.Н., Кузнецов А.С., Лаврик И.Н., Липунов В.М., Макаров В.Г., Мартинек А., Москаленко И.В., Мэн К., Персиц М.А., Петросян В.С., Пожарицкая О.Н., Сон Ж.Г., Сотниченко В.Н., Тюрин Н., Фандо Р.А., Фарзан Р.Х., ЧЭН С., Чжао Х., Шеин Е.В., Шик К.В., Шиков А.Н., май д.а., прон, серии ".и. Показать ещё Скрыть