Образование

Соавторы: Ciais P., Ishizawa M., Mаксютов Ш.Ш., Patra P.K., Poulter B., Мачида Т., Alexe M., Arora V.K., Bastviken D., Beerling D.J., Bergamaschi P., Blake D.R., Bousquet P., Brailsford G., Brovkin V., Bruhwiler L., Castaldi S., Chevallier F., Crevoisier C., Crill P., Curry C., Dlugokencky E., Etiope G., Frankenberg C., Gedney N., Houweling S., Höglund-Isaksson L., Ito A., Jackson R.B., Janssens-Maenhout G., Joos F., Kim H., Kleinen T., Krummel P., Lamarque J.F., Langenfelds R., Law R.M., Locatelli R., Maki T., Marshall J., McDonald K., Melton J.R., Morino I., Nakamura T., O’Doherty S., Parmentier F.J., Peng C., Peng S., Peters G.P., Peters W., Pison I., Prigent C., Prinn R.G., Ramonet M., Riley W.J., Saeki T., Saito M., Saunois M., Schroder R., Shirai T., Simpson I.J., Spahni R., Steele P., Takizawa A., Thompson R.L., Thorton B.F., Tian H., Tohjima Y., Tubiello F.N., Viovy N., Voulgarakis A., Weiss R., Wiedinmyer C., Wilton D.J., Wiltshire A., Worthy Douglas E.J., Wunch D., Xu X., Yoshida Y., Zhang B., Zhang Z., Zhu Q., Zhuravlev R., Ziehn T., van Weele M., van der Laan-Luijkx I.T., van der Werf G., Ганьшин А.В., Перегон А.М. Показать ещё Скрыть