–
Статьи в журналах
-
- 2024 Исследование процессов внедрения и экстракции лития в тонкоплёночном литий-ионном аккумуляторе методом резерфордовского обратного рассеяния
- Курбатов С.В., Мелесов Н.С., Паршин Е.О., Рудый А.С., Мироненко А.А., Наумов В.В., Скундин А.М., Бачурин В.И.
- в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство ФГБУ "Издательство "Наука" (Москва), № 11, с. 99-108 DOI
-
- 2019 Послойный анализ тонкопленочных Si-O-Al структур методами Вторично-ионной масс-спектрометрии и Резерфордовского обратного рассеяния
- Бачурин В.И., Мелесов Н.С., Мироненко А.А., Паршин Е.О., Рудый А.С., Симакин С.Г., Чурилов А.Б.
- в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство ФГБУ "Издательство "Наука" (Москва), № 4, с. 38-43 DOI