Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
скрыть
Nicolopoulos Stavros
Соавторы:
Никольский М.С.
,
Boulahya K.
,
Авилов А.С.
,
Zhukhlistov A.P.
,
Звягин Б.Б.
,
Кулыгин А.К.
,
Кулыгин К.А.
,
Лепешов Г.Г.
,
Collette J.P.
,
DelPlancke J.L.
,
Fischione P.
,
Gonzalez-Calbet J.M.
,
Heintzmann R.
показать полностью...
,
Parras M.
,
Portillo J.
,
Ruiz-González L.
,
Марин Н.П.
,
Рубин А.Б.
,
Соболев Б.П.
6 статей
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 92, Scopus: 95
IstinaResearcherID (IRID): 40277297
Деятельность
Статьи в журналах
2007
Ab initio determination of heavy oxide perovskite related structures from precession electron diffraction data
Boulahya Khalid
,
Ruiz-González Luisa
,
Parras Marina
,
González-Calbet José M.
,
Nickolsky M.S.
,
Nicolopoulos Stavros
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 107, № 6-7, с. 445-452
DOI
2007
Precession technique and electron diffractometry as new tools for crystal structure analysis and chemical bonding determination
Avilov A.
,
Kuligin K.
,
Nicolopoulos S.
,
Nickolskiy M.
,
Boulahya K.
,
Portillo J.
,
Lepeshov G.
,
Sobolev B.
,
Collette J.P.
,
Martin N.
,
Robins A.C.
,
Fischione P.
в журнале
Ultramicroscopy
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 107, № 6-7, с. 431-444
DOI
2006
How to resolveab-initionanostructures by electron diffraction: applications of beam precession in transmission electron microscopy
Nicolopoulos S.
,
Nickolsky M.
в журнале
Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography
, издательство
Blackwell Publishing Inc.
(United Kingdom)
, том 62, № a1, с. 52
DOI
2004
Imaging plates – a new life for electron diffraction structure analysis
Zhukhlistov Anatoliy P.
,
Nickolsky Maxim S.
,
Zvyagin Boris B.
,
Avilov Anatolij S.
,
Kulygin Alexey K.
,
Nicolopoulos Stavros
,
Ochs Rainer
в журнале
Zeitschfrift für Kristallographie
, издательство
R. Oldenbourg
(Germany)
, том 219, № 4
DOI
2002
Combination of electron diffractometry, imaging plates (IP) and electron diffraction structure analysis (EDSA)
Nickolsky M.S.
,
Nicolopoulos S.
,
Zhukhlistov A.P.
,
Zvyagin B.B.
, Ochs R.
в журнале
Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography
, издательство
Blackwell Publishing Inc.
(United Kingdom)
, том 58, № s1, с. 173
DOI
Статьи в сборниках
2006
New Instrumentation for TEM Electron Diffraction Structure Analysis: Electron Diffractometry Combined with Beam Precession
Nicolopoulos Stavros
,
Kuligin Alexey
,
Kuligin Kiril
,
Khalid Boulahya
,
Lepeshov Gregory
,
DelPlancke Jean Luc
,
Avilov Anatoly
,
Nickolsky Maximilian
, Ponce Arturo
в сборнике
Electron Crystallography
, с. 169-183
DOI