–
Статьи в журналах
-
- 2016 Understanding and optimizing the floating body retention in FDSOI UTBOX
- Aoulaiche M., Simoen E., Caillat C., Witters L., Bourdelle K.K., Nguyen B.Y., Martino J., Claeys C., Fazan P., Jurczak M.
- в журнале Solid-State Electronics, издательство Pergamon Press Ltd. (United Kingdom), том 117, с. 123-129 DOI
Статьи в сборниках
-
- 2010 Reliability study in capacitor less 1T-RAM cells on SOI
- Aoulaiche M., Collaert N., Simoen E., Mercha A., De Wachter B., Bourdelle K.K., Nguyen B.Y., Boedt F., Delprat D., Jurczak M., Altimime L.
- в сборнике 2010 IEEE International SOI Conference (SOI), место издания IEEE DOI
-
- 2010 A novel low-voltage biasing scheme for double gate FBC achieving 5s retention and 10<sup>16</sup> endurance at 85&#x00B0;C
- Lu Z., Collaert N., Aoulaiche M., De Wachter B., De Keersgieter A., Schwarzenbach W., Bonnin O., Bourdelle K.K., Nguyen B.Y., Mazure C., Altimime L., Jurczak M.
- в сборнике 2010 International Electron Devices Meeting, место издания IEEE DOI
-