ИСТИНА

Ломов Андрей Александрович

Соавторы: Бушуев В.А., Galiev G.B., Prohorov D.Y., Васильевский И.С., Денисов В.Н., Караванский В.А., Кульбачинский В.А., Поляков С.Н., Чуев М.А., Artemov V.V., Blank V.D., Blank V.D., Frolov K.V. показать полностью..., Gavrilov S.A., Kacerovsky Р., Kornilov N.;., Martyushov S.Y., Myakon’Kikh A.V., Rakova E.V., Shirokov S.S., Terentiev S.A., Zavaritskaya T.N., Бедин С.А., Жолудев С.И., Загорский Д.Л., Имамов Р.М., Любутин И.С., Мартюшев С.В., Мельник Н.Н., Молчанов С.П., Орешко А.П., Перунов И.В., Сульянов С.Н., Сутырин А.Г., Татаринцев А.А., Шемухин А.А., Шульпина И.Л.

5 статей, 5 тезисов докладов, 1 НИР

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 19, Scopus: 26

IstinaResearcherID (IRID): 8912894

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2022 Large-Sized X-ray Optics Quality Chemical Vapor Deposition Diamond
    • Polyakov Sergey Nikolaevich, Denisov Viktor Nikolaevich, Lomov Andrey Aleksandrovich, Shulpina Iren Leonidovna, Martyushov Stepan Yurievich, Kornilov Nikolay Vladimirovich, Blank Vladimir Davidovich
    • в журнале Physica Status Solidi (RRL) - Rapid Research Letters, издательство Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA (Germany), с. 2200164 DOI
  • 
    • 2021 Structure Investigations of Islands with Atomic-Scale Boron–Carbon Bilayers in Heavily Boron-Doped Diamond Single Crystal: Origin of Stepwise Tensile Stress
    • Polyakov S.N., Denisov V.N., Denisov V.V., Zholudev S.I., Lomov A.A., Moskalenko V.A., Molchanov S.P., Martyushov S.Yu, Terentiev S.A., Blank V.D.
    • в журнале Nanoscale Research Letters, издательство Springer Verlag (Germany), том 16, № 1 DOI
  • 
    • 2017 Magnetic and structural properties of Fe–Co nanowires fabricated by matrix synthesis in the pores of track membranes
    • Frolov K.V., Zagorskii D.L., Lyubutin I.S., Chuev M.A., Perunov I.V., Bedin S.A., Lomov A.A., Artemov V.V., Sulyanov S.N.
    • в журнале JETP Letters, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 105, № 5, с. 319-326 DOI
  • 
    • 2016 Study of the amorphization of surface silicon layers implanted by low-energy helium ions
    • Lomov A.A., Myakon’kikh A.V., Oreshko A.P., Shemukhin A.A.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 61, с. 173-180

• Статьи в сборниках

  • 
    • 2006 Structural and electrophysical properties of pseudomorphic GaAs/InGaAs/GaAs quantum wells: effect of thin central AlAs barrier
    • Vasilievskii I.S., Kulbachinskii V.A., Lomov A.A., Imamov R.M., Prokhorov D.Yu, Chuev M.A., Galiev G.B., Shirokov S.S.
    • в сборнике Proceedings of SPIE. Micro and Nanoelectronics. V. 6260, edited by K.A. Valiev, A.A. Orlikovsky. 2006, том 6260, с. 62600-1-62600-8 DOI

• Тезисы докладов

  • • 2018 Determination of Al content in Al/Si thermomigration fabricated structures by X-ray diffraction
    • Lomov A., Belov A.Yu, Seredin B., Tatarintsev A., Simakin S.
    • в сборнике Proceedings of the Inernational Conference "Micro- and Nanoelectronics - 2018", место издания Maks press Moscow, тезисы, с. 139-139
  • • 2005 Возможности рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии в характеризации низкоразмерных внутренних слоев гетеросистем на основе А3В5
    • Прохоров Д.Ю., Сутырин А.Г., Ломов А.А., Kacerovsky Р., Васильевский И.С., Кульбачинский В.А., Галиев Г.Б.
    • в сборнике Тезисы докл. "V Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов и наносистем". РСНЭ-НАНО, место издания ИК РАН М:, тезисы, с. 250
  • • 1998 Диагностика сверхтонких люминесцентных пленок пористого кремния
    • Караванский В.А., Ломов А.А., Ракова Е.В., Гаврилов С.А., Мельник Н.Н., Заварицкая Т.Н., Бушуев В.А.
    • в сборнике Тезисы докладов Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98” (Звенигород. 1998), C. P 2-58, место издания Москва, тезисы, с. 58-58
  • • 1998 Параметры пористых наноструктур по данным малоуглового рассеяния в методе трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
    • Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А.
    • в сборнике Тезисы докладов Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98” (Звенигород. 1998), С Р 2-59, место издания Москва, тезисы, с. 59-59
  • • 1994 X-ray high-resolution diffractometry investigation of sulphur implanted and pulse laser annealed InSb(111) substrates
    • Lomov A.A., Bushuev V.A.
    • в сборнике Abstr. 2nd European Sympozium “X-ray Topography and High Resolution Diffraction” (Berlin, Germany, 1994), P. 143, место издания Berlin, тезисы, с. 143-143

• НИРы

  • • 1 января 2010 - 31 декабря 2012 Особенности рассеяния рентгеновского и синхротронного излучений пористыми структурами
    • Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии имени А.В.Шубникова РАН
    • Руководитель: Ломов А.А. Участники НИР: Бушуев В.А., Караванский В.А., Карцев А.А., Левин Э.Е., Пунегов В.И., Сивков Д.В., Степанцов Е.А.