Тезисы докл. "V Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов и наносистем". РСНЭ-НАНОсборник
Статьи, опубликованные в сборнике
2005
Возможности рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии в характеризации низкоразмерных внутренних слоев гетеросистем на основе А3В5
Прохоров Д.Ю. ,
Сутырин А.Г. ,
Ломов А.А. ,
Kacerovsky Р. ,
Васильевский И.С. ,
Кульбачинский В.А. ,
Галиев Г.Б.
в сборнике Тезисы докл. "V Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов и наносистем". РСНЭ-НАНО , место издания ИК РАН М: , тезисы, с. 250
2005
Моделирование температурной зависимости энергетических спектров «запрещенных» отражений в оксиде цинка
Колчинская А.М. ,
Дмитриенко В.Е. ,
Коллинз С. ,
Лонди Д. ,
Овчинникова Е.Н. ,
Орешко А.П.
в сборнике Тезисы докл. "V Национальная конференция по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования материалов и наносистем". РСНЭ-НАНО , место издания ИК РАН М: , тезисы, с. 211-211