Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Вейвлет-анализ в рентгеновской рефлектометрии для определения порядка расположения слоев в пленках
доклад на конференции
Авторы:
Астафьев С.Б.
,
Янусова Л.Г.
,
Щедрин Б.М.
Всероссийская с международным участием Конференция (Конгресс) :
Первый Российский кристаллографический конгресс
Даты проведения конференции:
21-26 ноября 2016
Дата доклада:
22 ноября 2016
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Щедрин Б.М.
не указан
Астафьев С.Б.
Янусова Л.Г.
Щедрин Б.М.
Место проведения:
Москва, Russia
Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
Обратные задачи исследования вещества дифракционными методами и задачи терминального управления
Добавил в систему:
Щедрин Борис Михайлович