Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Optical and photoelectrical characterization of as-deposited and annealed PECVD polysilicon thin films
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
,
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 декабря 2013 г.
Авторы:
Кhomich A.V., Kovalev V.I., Vedeneev A.S.,
Kazanskii A.G.
, Forsh P.A., He D., Wang X.Q., Mell H., Vlasov I.I., Zavedeev E.V.
Сборник:
Proceedings SPIE
Том:
5401
Год издания:
2004
Первая страница:
200
Последняя страница:
207
Добавил в систему:
Казанский Андрей Георгиевич