|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Метод регистрации потенциала зарядки диэлектриков при ионном облучении по сдвигу границы тормозного рентгеновского спектрастатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Татаринцев А.А., Орликовский Н.А., Орликовская Н.Г., Озерова К.Е., Шахова Я.Э.
- Журнал: Журнал технической физики
- Том: 92
- Номер: 9
- Год издания: 2022
- Издательство: Наука
- Местоположение издательства: СПб.
- Первая страница: 1467
- Последняя страница: 1470
- DOI: 10.21883/JTF.2022.09.52940.81-22
- Аннотация: Предложен метод измерения высоковольтных потенциалов по сдвигу границы тормозного рентгеновскогоспектра при зарядке диэлектриков ионами. При облучении ионами Xe+ для генерации мягкого тормозногорентгеновского излучения предложено использовать зондирующий пучок электронов. Для нивелированияэффекта компенсации заряда на поверхности подобрана величина тока зондирующего пучка электронов.Получены значения равновесных потенциалов зарядки типичных изоляторов (Al2O3-керамика, Al2O3(сапфир), SiO2 и тефлон) при разных энергиях облучения ионами. Проведено сравнение полученных данных с результатами спектрометрических исследований.
- Добавил в систему: Татаринцев Андрей Андреевич