Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
TPerevalov
Перевалов Тимофей Викторович TPerevalov

Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук

IstinaResearcherID (IRID): 689585569
ResearcherID: H-4243-2017
Scopus Author ID: 16048352700
ORCID: 0000-0003-0895-6202
РИНЦ(SPIN): 2819-6740
–

Статьи в журналах

    • 2021 Charge Transport Mechanism and Trap Origin in Methyl-Terminated Organosilicate Glass Low-κ Dielectrics
    • Perevalov T.V., Gismatulin A.A., Dolbak A.E., Gritsenko V.A., Trofimova E.S., Pustovarov V.A., Seregin D.S., Vorotilov K.A., Baklanov M.R.
    • в журнале Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science, издательство Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co. (Germany), том 218, № 4 DOI

ИСТИНА ИНХС РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь