Тезисы докладов Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98” (Звенигород. 1998), С Р 2-59сборник

Статьи, опубликованные в сборнике

---

• • 1998 Параметры пористых наноструктур по данным малоуглового рассеяния в методе трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
  • Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А.
  • в сборнике Тезисы докладов Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98” (Звенигород. 1998), С Р 2-59, место издания Москва, тезисы, с. 59-59